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光学式侦测方法、光学式微机电侦测计及其制法[发明专利]

来源:保捱科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:光学式侦测方法、光学式微机电侦测计及其制法专利类型:发明专利

发明人:王传蔚,徐新惠,吕志宏申请号:CN201510876351.3申请日:20091201公开号:CN105388322A公开日:20160309

摘要:本发明涉及一种光学式侦测方法、光学式微机电侦测计及其制法,该光学式微机电侦测计,包含:一个基板;在该基板一区域内的至少一个光电二极管;位在该基板上方的隔离壁,包围该光电二极管区域;以及在该光电二极管上方的至少一个动件,该至少一个动件具有开孔可容许光线穿越到达光电二极管,其中于该至少一个动件移动时,改变穿越该开孔到达光电二极管的光量。

申请人:原相科技股份有限公司

地址:中国新竹

国籍:CN

代理机构:中原信达知识产权代理有限责任公司

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