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专利名称：红外-可见双波段光电探测系统及光轴偏角测量方
法
专利类型：发明专利
发明人：于洵,韩峰,聂亮,陶禹,陈靖,刘宝元,路绍军,张维光,张
祥伟,马群,尚小燕,郭钰琳
申请号：CN201711184138.1申请日：20171123公开号：CN107991686A公开日：20180504
摘要：本发明公开了一种红外‑可见双波段光电探测系统及光轴偏角测量方法，光电探测系统包括反射系统、分光镜、位于分光镜反射光路上的可见光成像单元和透射光路中波红外光成像单元，以及光轴偏角测量单元，光轴偏角测量方法包括：一、初始化CCD传感器并获取背景灰度图像；二、中波红外光轴对中；三、可见光光点成像；四、可见光光点图像的获取；五、可见光光点图像的质心坐标获取；六、光轴偏角的计算。本发明结合可见光波段光学系统和中波红外波段光学系统的优点，提高了观测、侦查效率，实现远距离、高分辨率以及全天候成像，且有效提高成像质量，光轴偏角测量单元可测量可见光轴和中波红外光轴的偏角，测量整个光电探测系统的稳定性。
申请人：西安工业大学
地址：710021 陕西省西安市未央区学府中路2号
国籍：CN
代理机构：西安创知专利事务所
代理人：谭文琰
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